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平均粒度測(cè)量?jī)x是用于測(cè)量材料粒度分布的裝置平均粒度測(cè)量?jī)x是用于測(cè)量材料粒度分布的裝置。其原理是通過對(duì)樣品進(jìn)行顆粒分離和尺寸分析，然后計(jì)算出平均粒徑大小，以及粒徑分布的寬度和偏斜度等參數(shù)。主要包括樣品分離和粒度分析兩個(gè)步驟。樣品通常是一種懸浮液或分散液，其中包含不同大小的顆粒。為了使顆粒得以分離，在測(cè)量?jī)x中通常采用離心力、... 查看詳情 2023-09-08
粒度檢測(cè)儀是用于測(cè)量物料顆粒尺寸分布的儀器粒度檢測(cè)儀是用于測(cè)量物料顆粒尺寸分布的儀器。其工作原理是利用物料顆粒的光學(xué)、聲學(xué)或電學(xué)特性，通過傳感器對(duì)顆粒進(jìn)行探測(cè)和分析，從而得出物料的粒度分布信息。通過將激光束照射到物料顆粒上，探測(cè)顆粒衍射光的強(qiáng)度和散射角度，進(jìn)而計(jì)算出顆粒的尺寸。粒度檢測(cè)儀的工作過程如下：步驟一：激光照射將... 查看詳情 2023-08-07
WLP-205平均粒度儀的工作原理是根據(jù)布朗運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)的 WLP-205平均粒度儀的工作原理是根據(jù)布朗運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)的。當(dāng)物料被放入儀器時(shí)，粉塵顆粒會(huì)在液體或氣體介質(zhì)中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng)。通過追蹤顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡，可以測(cè)量顆粒的平均速度和擴(kuò)散系數(shù)，可以廣泛應(yīng)用于化工、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域。在化工領(lǐng)域中，檢測(cè)顆粒物料的粒徑分布，以優(yōu)化工藝和控制產(chǎn)品... 查看詳情 2023-07-13
丹東費(fèi)氏粒度儀是用于測(cè)量顆粒物料粒度分布的儀器丹東費(fèi)氏粒度儀是一種用于測(cè)量顆粒物料粒度分布的儀器。其工作原理主要基于光學(xué)衍射原理和多次散射原理，通過粒子與光的相互作用來測(cè)量顆粒物料的粒徑分布。采用光學(xué)衍射原理來測(cè)量顆粒物料的粒徑分布。當(dāng)光線照射到粒子時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，使得光在不同方向上的強(qiáng)度發(fā)生變化。根據(jù)衍射現(xiàn)象的特點(diǎn)，可... 查看詳情 2023-06-12
丹東平均粒度儀的選購指南丹東平均粒度儀主要用于測(cè)量物料中顆粒的平均粒度大小，包括液體、氣體和固體三種狀態(tài)。在工業(yè)生產(chǎn)中被廣泛采用來生產(chǎn)控制和質(zhì)量監(jiān)控。需要根據(jù)具體的設(shè)備類型和測(cè)量需求來選擇合適的原理和操作方式。在使用過程中應(yīng)注意保持儀器的狀態(tài)穩(wěn)定、樣品的適宜性和測(cè)量參數(shù)的準(zhǔn)確性等，以達(dá)到可靠的測(cè)量結(jié)果。... 查看詳情 2023-05-16
WLP-216平均粒度儀的維護(hù)保養(yǎng)方法講解 WLP-216平均粒度儀是一種廣泛應(yīng)用于顆粒物料測(cè)量和分析的儀器，適用于各類物質(zhì)的粒度分布、顆粒形態(tài)等特性參數(shù)的測(cè)量。主要采用光散射原理進(jìn)行分析測(cè)試。當(dāng)光線照射到樣品中的固體顆粒時(shí)，部分光線被顆粒所折射，部分光線被顆粒所散射。這些散射的光子會(huì)向各個(gè)方向發(fā)散，產(chǎn)生散射光，并呈現(xiàn)出不... 查看詳情 2023-04-24

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