WLP-216平均粒度儀是用于測量顆粒物質平均粒度的儀器，其工作原理主要基于篩分法、沉降法、激光散射法和顯微鏡法等方法。這些方法各有優(yōu)缺點，需要根據(jù)實際需求選擇合適的方法。隨著科學技術的發(fā)展，其性能將不斷提高，為各個領域的研究和應用提供更準確、更便捷的服務。
 

　　WLP-216平均粒度儀在結構上的特點主要體現(xiàn)在其簡單性和高效性。這種儀器利用空氣透過法或激光散射原理來測量粉末的平均粒徑，具有高精度和良好的重復性：
 

　　-采用MIE散射原理，結合傅立葉變換光路和無約束自由擬合的數(shù)據(jù)處理軟件，能夠檢測顆粒大小及分布。
 

　　-利用多角度散射技術和原位測量技術進行操作，提高測量的準確性和效率。
 

　　-儀器結構簡單，操作方便，由于不受材料結團對測量的影響，測試的粒度重復性非常好。
 

　　-早期型號如WLP-202經(jīng)改進升級為WLP-208，增加了壓力校正器，提高了測量的精度和穩(wěn)定性。
 

　　-根據(jù)不同的測試要求，分散系統(tǒng)分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)，以適應不同的樣品類型。
 

　　-測量范圍廣泛，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段，能夠滿足不同領域的需求。
 

　　-自1978年投產(chǎn)以來，由于其穩(wěn)定的性能和較低的造價，被廣泛應用于各種材料的粒度測量。
 

　　-新款粒度儀無需預熱，開機即可測試，而老式粒度儀需開機預熱15-20分鐘，提高了使用便捷性。
 

　　-通過觀測光強度并應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論，能夠準確計算出粒子徑分布。
 

　　-簡單的結構設計使得日常維護和故障排除變得更加容易，降低了長期運營成本。